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CEM3000系列國產(chǎn)鎢燈絲高分辨率臺式掃描電鏡不僅擁有強(qiáng)大的抗振性能和高效的工業(yè)應(yīng)用能力，而且操作靈活和成像質(zhì)量可靠。它的抗振設(shè)計在充滿機(jī)械振動和噪音的工業(yè)環(huán)境中依舊穩(wěn)如泰山，拍攝出清晰、高分辨率的圖像。

VT6000共聚焦表面粗糙度多功能測量顯微鏡主要應(yīng)用于半導(dǎo)體、光學(xué)膜材、顯示行業(yè)、超精密加工等諸多領(lǐng)域中的微觀形貌和輪廓尺寸檢測中，其次是對表面粗糙度、面積、體積等參數(shù)的檢測中。

NS系列沉積薄膜高度臺階儀能夠測量納米到330μm或1050μm的臺階高度，可以準(zhǔn)確測量蝕刻、濺射、SIMS、沉積、旋涂、CMP等工藝期間沉積或去除的材料。

CEM3000臺式掃描電鏡快速抽放氣設(shè)計+低真空模式（可選配），一鍵出片+自動調(diào)節(jié)功能，無需專業(yè)運(yùn)維團(tuán)隊，普通員工即可快速上手，降低人力培訓(xùn)成本，高效獲取高質(zhì)量成像。

VT6000共聚焦光學(xué)類測量顯微鏡是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級測量的檢測儀器。一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數(shù)。

SuperViewW三維形貌顯微白光干涉儀用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)。